澤攸科研的電鏡解決方案

產品簡介

澤攸科研的電鏡解決方案
澤攸電鏡以多功能性滿足多樣化研究需求，其集成了掃描電鏡（SEM）通過更換樣品臺與探測器即可實現(xiàn)不同模式的切換。

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更新時間：2025-08-25

廠商性質：代理商

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臺式電鏡&臺階儀&原位分析

澤攸澤攸臺式掃描電鏡澤攸臺階儀澤攸探針臺及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

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澤攸電鏡以多功能性滿足多樣化研究需求，其集成了掃描電鏡（SEM）與透射電鏡（TEM）的部分功能，通過更換樣品臺與探測器即可實現(xiàn)不同模式的切換。

作為 SEM 使用時，加速電壓 5 - 50kV，二次電子分辨率 2.0nm；切換至 TEM 模式后，可對薄樣品進行觀察，點分辨率達 0.2nm，晶格分辨率 0.14nm。設備配備高角度環(huán)形暗場探測器（HAADF），能通過原子序數(shù)襯度成像，清晰觀察納米顆粒的分布。澤攸科研的電鏡解決方案

機械結構采用大理石底座，有效吸收外界振動，保證高倍成像時的穩(wěn)定性。電子光學系統(tǒng)的透鏡采用無磁材料制造，減少磁場對電子束的干擾。參數(shù)表中顯示，其最大樣品傾斜角為 60°，適合進行動態(tài)原位觀察，如材料在拉伸過程中的微觀結構變化。

面向科研需求，澤攸電鏡在性能與擴展性上表現(xiàn)突出。其采用冷場發(fā)射電子槍，電子束能量穩(wěn)定性優(yōu)于 0.1eV/h，為高分辨率成像與精細成分分析奠定基礎。

加速電壓 10 - 100kV，可調節(jié)步長 0.1kV，滿足不同厚度與成分樣品的觀察需求。配備球差校正器，能將電子束的球差降至最小，使 STEM 模式下的點分辨率達到 0.08nm，可直接觀察原子排列結構。

設備支持多種原位實驗附件，如加熱臺（室溫 - 1000℃）、拉伸臺（最大拉力 50N），可在電鏡內模擬樣品的服役環(huán)境，記錄動態(tài)變化過程。真空系統(tǒng)采用全無油設計，避免油蒸氣對樣品的污染，極限真空達 5×10??Pa。

使用時，需通過專業(yè)培訓掌握高級功能，軟件支持自動化數(shù)據(jù)采集與分析，可批量處理多個觀察點的圖像與光譜數(shù)據(jù)。適用于國家實驗室、頂尖高校的前沿研究，如二維材料的原子層表征、催化劑的動態(tài)反應機理研究等，助力突破科學難題。澤攸科研的電鏡解決方案

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