布魯克三維輪廓儀：實驗室微觀測量優(yōu)選
在科研實驗室的微觀測量工作中，一款穩(wěn)定且易用的輪廓儀能顯著提升研究效率。布魯克三維光學(xué)輪廓儀 ContourX-500，憑借貼合實驗室場景的設(shè)計與可靠性能，成為眾多科研人員的常用工具。
產(chǎn)品細節(jié)
ContourX-500 采用桌面式緊湊設(shè)計，機身尺寸小巧，無需占用過多實驗臺空間，輕松融入各類實驗室布局。操作面板布局清晰，按鍵標識簡潔易懂，搭配高清觸控顯示屏，即使是初次操作的人員，也能通過引導(dǎo)式菜單快速完成參數(shù)設(shè)置。樣品臺采用高精度平移結(jié)構(gòu)，配備可調(diào)節(jié)的樣品夾具，能穩(wěn)固固定從微小芯片到中等尺寸光學(xué)鏡片的各類樣品，且移動過程平穩(wěn)無震，確保測量區(qū)域精準對準。設(shè)備光學(xué)鏡頭處設(shè)有防塵保護蓋，閑置時可有效隔絕灰塵，保障光學(xué)部件清潔；側(cè)面預(yù)留數(shù)據(jù)接口，方便連接電腦、打印機等外部設(shè)備，實現(xiàn)數(shù)據(jù)導(dǎo)出與報告打印。
產(chǎn)品性能
ContourX-500 融合白光干涉與共聚焦測量技術(shù)，可根據(jù)樣品表面特性自動切換測量模式。面對光滑的光學(xué)元件表面，白光干涉技術(shù)能清晰捕捉納米級的高度變化；測量粗糙的金屬或塑料表面時，共聚焦模式則可提供高橫向分辨率的細節(jié)成像。設(shè)備測量過程中數(shù)據(jù)采集連貫，多次測量同一位置的結(jié)果一致性較好，能為科研實驗提供穩(wěn)定的數(shù)據(jù)支持。其測量速度可根據(jù)需求調(diào)節(jié)，快速掃描模式適合大面積樣品的初步檢測，精細掃描模式則能滿足小區(qū)域高分辨率測量需求，兼顧效率與精度。
用材講究
核心光學(xué)部件選用高透光率的光學(xué)玻璃，經(jīng)過特殊鍍膜處理，減少光線反射與色散，確保成像清晰。樣品臺臺面采用耐磨的陶瓷材料，表面經(jīng)過精細拋光，既具備良好的平整度，又能抵常使用中的刮擦，延長使用壽命。內(nèi)部機械傳動部件采用高強度合金，配合精密導(dǎo)軌，保障長期使用后的運動精度，減少部件磨損帶來的測量偏差。設(shè)備外殼采用防腐蝕的工程塑料，輕便且堅固，能保護內(nèi)部元件免受實驗室常見化學(xué)試劑的輕微腐蝕。
參數(shù)詳情
廣泛用途
在材料科學(xué)研究中，ContourX-500 可用于測量薄膜厚度、表面粗糙度，助力分析涂層制備工藝對材料性能的影響；在光學(xué)元件研發(fā)領(lǐng)域，能檢測透鏡、棱鏡的表面面形誤差與邊緣缺陷，為元件性能優(yōu)化提供數(shù)據(jù)；在生物醫(yī)學(xué)研究中，可觀察細胞培養(yǎng)載體的表面微觀結(jié)構(gòu)，研究其對細胞黏附與生長的影響；此外，在微電子領(lǐng)域，還能用于檢測芯片封裝表面的焊點高度與平整度，輔助改進封裝工藝。
使用說明
使用前，需將 ContourX-500 放置在水平、無明顯振動的實驗臺上，檢查電源連接是否正常，打開設(shè)備電源進行預(yù)熱，預(yù)熱時間建議不少于 30 分鐘。清潔樣品表面的灰塵與油污，根據(jù)樣品尺寸調(diào)整樣品夾具，將樣品平穩(wěn)固定在樣品臺上，確保樣品表面無傾斜。通過觸控屏選擇測量模式，設(shè)置掃描范圍、分辨率、速度等參數(shù)，若需保存測量方案，可在系統(tǒng)中創(chuàng)建自定義程序。點擊 “開始測量" 后，設(shè)備自動啟動掃描，過程中避免觸碰樣品臺或設(shè)備機身。測量完成后，系統(tǒng)自動生成三維形貌圖與數(shù)據(jù)報告，可通過數(shù)據(jù)接口導(dǎo)出至電腦進行進一步分析。實驗結(jié)束后，關(guān)閉設(shè)備電源，蓋上鏡頭防塵蓋，清潔樣品臺與夾具，定期（建議每 3 個月）請專業(yè)人員對光學(xué)系統(tǒng)進行校準，確保設(shè)備長期處于良好工作狀態(tài)。
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