OLS5100共聚焦顯微鏡多領(lǐng)域應(yīng)用實(shí)用工具

奧林巴斯激光共聚焦顯微鏡OLS5100，憑借其出色的三維成像能力與豐富的分析功能，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體制造、生物醫(yī)學(xué)等多個領(lǐng)域，成為科研與工業(yè)檢測人員的實(shí)用工具。

產(chǎn)品細(xì)節(jié)與性能

OLS5100采用反射型共聚焦激光掃描原理，配備405nm激光光源，短波長特性賦予其優(yōu)秀的橫向分辨率，能清晰捕捉樣品表面極細(xì)微的紋理和缺陷。設(shè)備擁有彩色成像和激光共聚焦兩套系統(tǒng)，彩色成像光學(xué)系統(tǒng)利用白光LED光源和CMOS圖像傳感器獲取樣品彩色信息，激光共聚焦光學(xué)系統(tǒng)借助405nm激光二極管光源和高靈敏度光電倍增管，獲得樣品3D輪廓信息和高清圖像，僅接收通過圓形針孔聚焦的光線，有效消除模糊，實(shí)現(xiàn)比普通顯微鏡更高的圖像對比度。

OLS5100支持多種掃描模式，快速掃描適合初步觀察樣品整體情況，精細(xì)掃描適合高分辨率三維重構(gòu)，獲取樣品詳細(xì)微觀結(jié)構(gòu)信息。其3D分析功能豐富，可計算表面粗糙度、體積、臺階高度、孔隙率等多種參數(shù)，滿足不同領(lǐng)域?qū)悠沸蚊卜治龅男枨蟆?/p>

用材與參數(shù)表

核心光學(xué)部件選用高透光率石英玻璃，配合多層鍍膜技術(shù)，減少激光能量損失與雜散光干擾。樣品臺臺面采用耐磨陶瓷材質(zhì)，表面平整度誤差小于2μm，抗腐蝕且耐高溫。內(nèi)部機(jī)械傳動部件采用精密滾珠絲杠與伺服電機(jī)，保障長期使用后的運(yùn)動精度。

型號與用途

OLS5100提供多種型號，如OLS5100-SAF、OLS5100-SMF、OLS5100-LAF等，適用于不同領(lǐng)域與場景。在材料科學(xué)領(lǐng)域，可用于金屬材料的微觀結(jié)構(gòu)觀察，分析晶粒大小、晶界情況，幫助研究人員了解材料性能與加工工藝之間的關(guān)系；在半導(dǎo)體材料研究里，能對芯片表面的微電路結(jié)構(gòu)進(jìn)行測量和分析，助力提升芯片制造的精度和質(zhì)量；在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，可觀察細(xì)胞在支架表面的黏附形態(tài)、生物涂層的三維結(jié)構(gòu)，為生物材料研發(fā)提供數(shù)據(jù)支持。

使用說明

使用OLS5100時，首先根據(jù)檢測領(lǐng)域與樣品類型選擇合適的型號與物鏡。將設(shè)備放置在穩(wěn)定的工作環(huán)境中，連接電源與相關(guān)配件。打開設(shè)備電源，進(jìn)行預(yù)熱與激光校準(zhǔn)。樣品制備需符合共聚焦測量要求，確保樣品表面清潔、干燥。將樣品放置在樣品臺上，通過操作界面設(shè)置掃描參數(shù)，如掃描范圍、分辨率、掃描速度等。選擇合適的掃描模式，啟動掃描后，設(shè)備自動完成數(shù)據(jù)采集與處理。掃描完成后，利用配套軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，計算所需參數(shù)，生成檢測報告。定期對設(shè)備進(jìn)行維護(hù)與保養(yǎng)，清潔光學(xué)鏡頭與激光出射口，確保設(shè)備性能穩(wěn)定。

OLS5100以其通用性與實(shí)用性，為多領(lǐng)域的研究與檢測提供了有力支持，成為科研與工業(yè)檢測人員的工具。

OLS5100共聚焦顯微鏡多領(lǐng)域應(yīng)用實(shí)用工具