Sensofar S neox：科研與工業(yè)通用測(cè)量語言

從量子點(diǎn)薄膜到航空發(fā)動(dòng)機(jī)葉片，從活細(xì)胞培養(yǎng)到古生物化石，表面形貌測(cè)量的需求正跨越學(xué)科與行業(yè)邊界。Sensofar S neox通過標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)量流程與開放式軟件架構(gòu)，成為連接微觀世界與宏觀應(yīng)用的橋梁。

跨尺度測(cè)量能力

S neox的測(cè)量范圍覆蓋納米至米級(jí)：在納米尺度，其白光干涉模式可檢測(cè)50μm直徑的鈍化層孔徑誤差；在毫米尺度，多焦面疊加模式能快速拼接150mm×150mm的太陽能電池板表面；在米級(jí)尺度，五軸款配合12英寸自動(dòng)晶圓臺(tái)，可完成汽車車身涂層的全局粗糙度分析。這種跨尺度能力源于其智能拼接算法——通過特征點(diǎn)匹配技術(shù)，將多個(gè)視場(chǎng)的數(shù)據(jù)誤差控制在0.5μm以內(nèi)。

軟件生態(tài)：從數(shù)據(jù)采集到?jīng)Q策支持

SensoSCAN 7軟件平臺(tái)提供三級(jí)分析功能：基礎(chǔ)層支持ISO標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)計(jì)算，如Sa（算術(shù)平均高度）、Sq（均方根高度）；進(jìn)階層集成紋理方向性分析與功率譜密度計(jì)算，適用于摩擦學(xué)研究；頂層則嵌入SensoMAP機(jī)器學(xué)習(xí)模塊，可自動(dòng)識(shí)別表面缺陷類型。在某存儲(chǔ)芯片失效分析案例中，S neox通過相移干涉模式在非破壞條件下清晰呈現(xiàn)20μm焊球下方的微裂紋，SensoMAP模塊進(jìn)一步將裂紋擴(kuò)展速率與電遷移數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)，為工藝改進(jìn)提供量化依據(jù)。

硬件配置與選型建議

基礎(chǔ)款S neox適合科研機(jī)構(gòu)與中小型制造企業(yè)，其6位電動(dòng)鼻輪可快速切換物鏡，滿足多任務(wù)測(cè)量需求；五軸款則面向航空航天、新能源汽車等大型部件檢測(cè)場(chǎng)景，其旋轉(zhuǎn)臺(tái)承載能力達(dá)50kg，重復(fù)定位精度±0.005°。用戶可根據(jù)預(yù)算與測(cè)量對(duì)象選擇配置：例如，生物醫(yī)學(xué)實(shí)驗(yàn)室可加裝活細(xì)胞培養(yǎng)觀測(cè)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)表面形貌與細(xì)胞行為的同步監(jiān)測(cè)；半導(dǎo)體工廠則需選配SECS/GEM接口，以集成至自動(dòng)化生產(chǎn)線。

操作優(yōu)化與維護(hù)指南

為設(shè)備性能，建議每日開機(jī)后進(jìn)行光源校準(zhǔn)（使用NPL認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)塊），每月清潔物鏡組（使用專用鏡頭紙與乙醇溶液）。在測(cè)量高反射率樣品時(shí)，可啟用軟件中的動(dòng)態(tài)光圈調(diào)節(jié)功能，將反射光強(qiáng)度降低至30%以下以避免過曝；對(duì)于透明薄膜，則需切換至405nm紫光光源以提高干涉對(duì)比度。Sensofar提供整機(jī)質(zhì)保1年服務(wù)，包括安裝調(diào)試、現(xiàn)場(chǎng)培訓(xùn)與24小時(shí)內(nèi)電話支持。