在微型元件的缺陷檢測方面,S neox 具備出色的細(xì)節(jié)捕捉能力。微型電子元件在制造過程中,可能因模具磨損、加工工藝波動產(chǎn)生表面劃痕、凹陷、毛刺或封裝膠體氣泡等缺陷。以芯片封裝膠體檢測為例,封裝膠體表面若存在凹陷或氣泡,可能導(dǎo)致芯片散熱不良或機(jī)械強(qiáng)度下降。通過 S neox 對封裝膠體表面進(jìn)行掃描,能精準(zhǔn)識別凹陷的深度與面積、氣泡的位置與大小,甚至可檢測到膠體內(nèi)部幾微米大小的微小氣泡。設(shè)備的重復(fù)性優(yōu)異,對同一缺陷進(jìn)行多次檢測,數(shù)據(jù)偏差極小,為缺陷判定與工藝優(yōu)化提供可靠依據(jù)。
從用材與設(shè)備穩(wěn)定性來看,S neox 也適配微型電子元件制造的潔凈車間環(huán)境。機(jī)身框架采用高強(qiáng)度鋁合金材料,重量輕且抗腐蝕,可適應(yīng)潔凈室定期的無塵清潔與消毒,不易因環(huán)境濕度或清潔劑影響出現(xiàn)部件老化;檢測平臺選用不銹鋼材質(zhì),經(jīng)過精細(xì)打磨,平整度高,且配備專用的微型元件固定夾具,可穩(wěn)定固定尺寸微小的元件,避免檢測過程中元件位移導(dǎo)致的誤差。設(shè)備的抗振動設(shè)計能減少潔凈室中貼片機(jī)、焊錫機(jī)等設(shè)備運行時產(chǎn)生的振動干擾,確保在多設(shè)備協(xié)同工作的環(huán)境下,檢測數(shù)據(jù)依然穩(wěn)定可靠。
在實際操作中,S neox 針對微型電子元件的微小尺寸與脆弱特性,設(shè)計了便捷且精準(zhǔn)的檢測流程。以微型傳感器電極圖案檢測為例,使用說明如下:首先,在潔凈工作臺上,將待檢測的微型傳感器放置在 S neox 檢測平臺的專用微定位夾具上,通過顯微鏡輔助對準(zhǔn),確保傳感器的電極區(qū)域位于檢測鏡頭正下方,夾具壓力需輕柔,避免損壞傳感器脆弱的電極結(jié)構(gòu);接著,打開配套檢測軟件,在 “微型電子元件檢測模板" 中選擇 “電極檢測" 模式,根據(jù)電極圖案的尺寸(如電極寬度 5 微米、間距 3 微米)設(shè)置檢測區(qū)域大小(通常覆蓋 2-3 組電極圖案),調(diào)整掃描分辨率(選擇高分辨率以清晰呈現(xiàn)電極邊緣細(xì)節(jié));隨后,點擊 “開始檢測",設(shè)備電動平移臺以微米級精度帶動傳感器移動,共聚焦光學(xué)系統(tǒng)同步采集電極表面的光學(xué)信號,實時生成三維輪廓圖像,軟件會自動識別電極邊緣,計算電極寬度、間距及高度;檢測完成后,可通過 15 英寸高清觸控屏放大查看電極圖案細(xì)節(jié),對比設(shè)計圖紙中的尺寸要求,判斷是否合格,也可將檢測數(shù)據(jù)導(dǎo)出為 CSV 格式,用于生產(chǎn)質(zhì)量統(tǒng)計或研發(fā)數(shù)據(jù)分析;最后,檢測結(jié)束后,關(guān)閉檢測程序,小心取下傳感器,用無塵布蘸取專用清潔劑輕輕擦拭檢測平臺與夾具,為下一次檢測做好準(zhǔn)備。
S neox 的參數(shù)配置進(jìn)一步貼合微型電子元件檢測需求:檢測技術(shù)為 3D 共聚焦白光干涉技術(shù),保障納米級檢測精度;檢測平臺移動精度達(dá)微米級,滿足微型元件的精準(zhǔn)定位;軟件中的 “邊緣檢測" 模塊,可自動識別元件的輪廓邊緣,減少人工測量的誤差;“多區(qū)域批量檢測" 功能,可預(yù)設(shè)多個檢測區(qū)域,實現(xiàn)對同一元件不同部位的連續(xù)掃描,提升檢測效率。此外,設(shè)備支持與電子設(shè)計自動化(EDA)軟件對接,可直接導(dǎo)入元件的設(shè)計圖紙數(shù)據(jù),將實際檢測結(jié)果與設(shè)計值進(jìn)行自動對比,快速生成偏差報告,為生產(chǎn)工藝調(diào)整提供直觀依據(jù)。
隨著微型電子元件向更小尺寸、更高集成度方向發(fā)展(如 MEMS 微機(jī)電系統(tǒng)、微型射頻元件),對檢測設(shè)備的精度與適配性要求不斷提升。Sensofar S neox 共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀,以精準(zhǔn)的檢測能力、靈活的適配性與穩(wěn)定的性能,為微型電子元件制造企業(yè)提供從研發(fā)到生產(chǎn)的全流程質(zhì)量保障,幫助企業(yè)提升產(chǎn)品合格率,降低失效風(fēng)險,在微型電子領(lǐng)域的競爭中占據(jù)優(yōu)勢。