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三維光學(xué)輪廓儀
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Sensofar LIN三維光學(xué)輪廓儀:功能解析?
Sensofar LIN三維光學(xué)輪廓儀:功能解析?選擇測量設(shè)備需要在性能與預(yù)算之間取得平衡。Sensofar LIN系列白光干涉輪廓儀的設(shè)計理念,正是在保留核心功能的前提下,提供一種經(jīng)濟實用的解決方案,讓更多用戶能夠接觸并使用白光干涉測量技術(shù)。
選擇測量設(shè)備需要在性能與預(yù)算之間取得平衡。Sensofar LIN系列白光干涉輪廓儀的設(shè)計理念,正是在保留核心功能的前提下,提供一種經(jīng)濟實用的解決方案,讓更多用戶能夠接觸并使用白光干涉測量技術(shù)。
該產(chǎn)品的細節(jié)體現(xiàn)在其專注于核心測量功能。它提供了白光干涉模式,適用于從亞納米到毫米級別的臺階高度測量,以及針對光滑表面的形貌分析。這種技術(shù)對于微電子、光學(xué)元件和精密加工領(lǐng)域的許多常規(guī)檢測任務(wù)來說是適用的。
其性能滿足大部分日常檢測需求。它具有不錯的測量速度,能在較短時間內(nèi)完成一個區(qū)域的掃描和三維重建。設(shè)備的穩(wěn)定性有助于保證測量數(shù)據(jù)的重復(fù)性和 reproducibility,這對于過程質(zhì)量控制尤為重要。
用料方面,LIN系列在關(guān)鍵部件上并未妥協(xié)。它采用了高質(zhì)量的LED光源,壽命長且發(fā)光穩(wěn)定;干涉物鏡經(jīng)過專門設(shè)計和校正,以確保成像質(zhì)量和測量精度;堅固的機械結(jié)構(gòu)為掃描系統(tǒng)提供了穩(wěn)定的基礎(chǔ)。
LIN系列通常提供基礎(chǔ)型號,用戶可以根據(jù)未來的需求,考慮是否升級物鏡或軟件功能。這種靈活的配置方式為用戶提供了根據(jù)自身發(fā)展階段進行投資的可能性。
其用途主要面向工業(yè)界的質(zhì)控環(huán)節(jié)。例如:
PCB行業(yè)的焊膏厚度測量。
金屬加工表面的粗糙度評定。
小型光學(xué)元件的曲率半徑和面形分析。
材料涂層或鍍膜的厚度測量。
使用說明流程清晰。操作員經(jīng)過基本培訓(xùn)后,即可完成放置樣品、選擇測量點位、啟動自動測量、查看結(jié)果報告等一系列操作。軟件的自動化功能減少了人為干預(yù),降低了操作難度和結(jié)果的不確定性。
對于尋求將三維表面測量技術(shù)引入其質(zhì)量體系的中小型企業(yè)或教育機構(gòu),LIN系列展現(xiàn)出了其應(yīng)用價值。
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